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顕微鏡

理学研究科 [S-9]電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) JEM-2100F

電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM)  JEM-2100F
保有部局 理学研究科
設備等番号 S-9
設備等名称 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) JEM-2100F
メーカー 日本電子㈱
購入年月 2013年3月
設置場所 理学1号館062
仕様・特徴

透過電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)は、試料に電子線をあて、透過してきた電子の情報から、物質の微小な組織や構造を観察する装置である。ナノメートルスケールの分解能を持つため、物質を構成する原子レベルでの議論が可能となる。また電子回折図形も同時に観察できるため、相同定や方位決定にも有効である。
本装置は、加速電圧200 kVで、収差補正機能はついていない。また、検出面積が100mm2と大きいエネルギー分散X線分光装置(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy(EDS)) を装備している。

問合せ先 北部構内事務部拠点運営推進室
nocias-kyotenjimu@mail2.adm.kyoto-u.ac.jp