理学研究科 [S-9]電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) JEM-2100F
保有部局 | 理学研究科 |
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設備等番号 | S-9 |
設備等名称 | 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) JEM-2100F |
メーカー | 日本電子㈱ |
購入年月 | 2013年3月 |
設置場所 | 理学1号館062 |
仕様・特徴 | 透過電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)は、試料に電子線をあて、透過してきた電子の情報から、物質の微小な組織や構造を観察する装置である。ナノメートルスケールの分解能を持つため、物質を構成する原子レベルでの議論が可能となる。また電子回折図形も同時に観察できるため、相同定や方位決定にも有効である。 |
問合せ先 | 北部構内事務部拠点運営推進室 nocias-kyotenjimu*mail2.adm.kyoto-u.ac.jp |