農学研究科 [A-3]電界放出形走査電子顕微鏡
保有部局 | 農学研究科 |
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設備等番号 | A-3 |
設備等名称 | 電界放出形走査電子顕微鏡 |
メーカー | ㈱日立ハイテク |
購入年月 | 2010年3月 |
設置場所 | 農学部総合館 S-011 |
仕様・特徴 | 本装置は、乾燥した試料の表面または断面の微細構造を高分解能(1.0nm/15kV、1.4nm/1kV)で観察することができる。また、付属のエネルギー分散型X線分析装置により試料中に含まれる元素(Be〜Uまで)の分布も測定可能である。 |
問合せ先 | 農学研究科森林科学専攻 吉永 yoshinaga.arata.5a*kyoto-u.ac.jp |